2023ko azaroaren 27an, Asiako Pazifikoko Metrologia Programaren 39. Batzar Nagusia eta Jarduera Lotuak (APMP Batzar Nagusia deituko zaiona) ofizialki ireki zen Shenzhenen. Zazpi eguneko APMP Batzar Nagusi hau, Txinako Metrologia Institutu Nazionalak eta Txinako Metrologia Institutu Nazionaleko Shenzhen Berrikuntza Institutuak antolatuta, eskala handikoa, espezifikazio handikoa eta eragin handikoa da, eta parte-hartzaileen kopurua ia 500ekoa da, APMPko kide diren erakunde ofizial eta afiliatuetako ordezkariak, Nazioarteko Metro Konbentzioaren Erakundearen eta lotutako nazioarteko erakundeen ordezkariak, nazioarteko gonbidatuak eta Txinako akademikoak barne.
Aurtengo APMP Batzar Nagusiak "2030+ Ikuspegia: Metrologia eta Zientzia Berritzaileak Erronka Globalei Aurre Egiteko" sinposioa egin zuen abenduaren 1eko goizean. Gaur egun, Comité International des Poids et Mesures (CIPM) metrologia garatzeko nazioarteko estrategia berri bat garatzen ari da, "CIPM Estrategia 2030+", 2025ean kaleratuko dena, Metroaren Hitzarmena sinatzearen 150. urteurrena dela eta. Estrategia honek metrologia komunitate globalarentzat garapen norabide nagusia adierazten du Nazioarteko Unitate Sistemaren (SI) berrikuspenaren ondoren, eta interes handikoa da herrialde guztientzat. Nazioarteko sinposio hau estrategian oinarritzen da eta nazioartean ospetsuak diren metrologia adituen txostenak gonbidatzen ditu munduko metrologia zientzialari onenen ikuspegi sakonak partekatzeko, trukeak sustatzeko eta lankidetza sustatzeko. Neurketa Tresnen Erakusketa eta bisita eta truke mota ugari ere antolatuko ditu APMPko kide diren herrialdeen eta interesdunen arteko komunikazioa sustatzeko.
Aldi berean egindako neurketa eta proba tresnen erakusketan, gure enpresako ordezkariek tenperatura eta presioa neurtzeko tresna aurreratuak eraman zituzten eta ohore handia izan zen erakusketa honetan parte hartzea, aukera hau baliatuz gure enpresak berrikuntza teknologikoaren eta neurketa zientzia eta teknologiaren arloan dituen lorpen aurreratuak erakusteko.
Erakusketan, ordezkariek ez zieten bisitariei azken produktu eta teknologiak aurkeztu bakarrik, baita nazioarteko kideekin sakoneko elkarrizketak izateko aukera ere aprobetxatu zuten. Gure standak mundu osoko profesionalak eta industriako eliteak erakarri zituen esperientziak partekatzeko eta berrikuntzei buruz eztabaidatzeko.
Enpresako eta Metrologia Institutu Nazionalaren (Thailandia), Saudi Arabiako Arauen Erakundearen (SASO), Kenyako Arauen Bulegoaren (KEBS), Metrologia Zentro Nazionalaren (Singapur) eta metrologia arloko beste nazioarteko lider batzuen ordezkariek elkartruke atsegin eta sakonak egin zituzten. Ordezkariek ez zieten soilik enpresaren produktuak aurkeztu Metrologia Institutu Nazionaleko buruei, azken urteotako berrikuntza lorpenak eta neurketaren arloan herrialdeen beharren eta erronken inguruko eztabaida sakonagoa egin.
Bitartean, ordezkariek komunikazio estua izan zuten Alemaniako, Sri Lankako, Vietnamgo, Kanadako eta beste herrialde batzuetako bezeroekin. Trukeetan zehar, ordezkariek enpresaren azken teknologia-joerak eta merkatu-dinamikak partekatu zituzten, eta horrek lankidetza-asmo sakonagoak ekarri zituen. Truke emankor honek ez zuen soilik nazioarteko metrologia arloan dugun eragina zabaldu eta nazioarteko bezeroekin dugun lankidetza-harremana sakondu, baizik eta informazio-trukea eta lankidetza teknikoa ere sustatu zituen, etorkizuneko lankidetzarako oinarri sendoak ezarriz.
APMP Batzar hau da nazioarteko bidaiak berrezarri zirenetik APMP lineaz kanpoko batzarra egiten den lehen aldia, eta horrek esanahi garrantzitsua eta berezia du. Erakusketa honetan parte hartzeak ez du soilik metrologia zientzia eta teknologiaren arloan dugun indar berritzailea erakusten, baizik eta Txinan metrologia arloan nazioarteko lankidetza eta industria integrazioa sustatzeko eta Txinaren nazioarteko eragina hobetzeko ere paper garrantzitsua betetzen du. Nazioarteko eszenatokian gure indarra erakusten jarraituko dugu, nazioarteko metrologia arloan lankidetza eta garapena sustatuko ditugu, eta gure ekarpena egingo dugu metrologia zientzia eta teknologiaren berrikuntza eta garapen globalean!
Argitaratze data: 2023ko abenduak 1
